走査型電子顕微鏡チュートリアル

走査電子顕微鏡（SEM）は、試験片を表示するには、光の代わりに電子ビームを使用しています。電子ビームは、外部形態を示す試験片の表面に信号を生成します。また、SEMを使用して、二次元画像中の対象物を構成する粒子の形状、サイズと位置を確認することができます。約30,000倍、20倍から5ミクロンであり、倍率範囲1 CMからスキャンモード範囲で画像化することができる領域のサイズ。あなたが研究室で
標本
走査型電子顕微鏡は
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検体を挿入
より多くの命令がシリンダにあなたの検体を挿入表示する必要ですもの試料ホルダー。あなたはシリンダーの上部に試料表面を調整していることを確認します。所定の位置に試料を保持するためでねじ込みます。
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ダブルフィラメント放出ノブがオフになっていることを確認、ならびに加速（アクセル）電圧ボタンセットを置きます。あなたは第二の制御パネル上のノブやボタンを見つけることができます。ノブがオフになっていることを確認するには、それが適切に完全になっていることを確認してください。アクセル電圧がオフのとき、ランプボタンが消灯します。
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3

バック交換棒を引いて、チャンバー内にアセンブリ全体を配置します。真空制御ボタンを押してください。
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を右に回して、試料交換室の隔離弁を開きます。ロッドを外し、非常に慎重にそれを取る。
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に隔離弁を押して、再び真空制御ボタンを押してください。
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生成電子ビーム
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明るさとコントラストのつまみを回します。スキャンの手順であなたの走査型電子顕微鏡用のマニュアルに従ってください。
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を押して加速電圧のボタンと発光ノブ。フォーカスノブを使用して、より良い詳細は、走査線の焦点を合わせます。同様に、コントラストや明るさを調整します。
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あなたの顕微鏡のコントロールパネルで、PIC標識されるべき画像のボタンを押してください。これはサンプルの画像を紹介します。
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試料を挿入すると同じ指示に従って、試料を取り出します。
で